烏魯木齊航空發(fā)動機(jī)測試儀廠家
發(fā)布時(shí)間:2022-07-21 01:36:59烏魯木齊航空發(fā)動機(jī)測試儀廠家
在保證焦斑質(zhì)量的同時(shí),可獲得大的曝光區(qū)域;引入光強(qiáng)宏微雙重調(diào)制裝置,提高了曝光光強(qiáng)的調(diào)制分辨力,從而解決控制輪廓精度的問題;通過空間光調(diào)制器依據(jù)像素部對寫入激光分束,解決了多光路并行同步直寫光束的控制問題。該技術(shù)特別適用于微陣列和微結(jié)構(gòu)光學(xué)器件制作,具有大范圍、高精度激光寫入的優(yōu)點(diǎn)。研究目的:研究一種基于多個(gè)子孔徑干涉拼接的全域非球面超精密測量技術(shù),解決干涉儀測量范圍受限和分辨率受限問題,實(shí)現(xiàn)局部變化較大的凸凹面深度非球面面型的高精度測量。
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基本原理:干涉儀對深度非球面元件進(jìn)行多次局部檢測,兩次測量區(qū)域之間有一定的重疊。將每兩次檢測重疊部分的相位值經(jīng)過擬合統(tǒng)一到一個(gè)曲面上,這樣可不斷地將測量范圍擴(kuò)大,從而獲得整個(gè)待測元件表面輪廓。拼接的理論依據(jù)是在重疊區(qū)域內(nèi),兩次測量得到的波前相位值是一致的,即兩次測量相位數(shù)據(jù)位于同一個(gè)曲面上。而在實(shí)際測量過程中,則需要傾斜、位移、離焦和振動干擾等誤差影響,并依據(jù)一種高精度的多子孔徑干涉拼接測量模型,實(shí)現(xiàn)全域凸凹深度非球面形狀的測量與評定。
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HUE-T231大型高速回轉(zhuǎn)裝備超精密裝配測量儀(單立柱雙通道)由哈爾濱工業(yè)大學(xué)、哈爾濱超精密裝備工程技術(shù)中心有限公司聯(lián)合開發(fā)。主要用于航空發(fā)動機(jī)、艦船發(fā)動機(jī)和電站燃機(jī)機(jī)匣、轉(zhuǎn)子、葉盤組件,盤、軸類零件和回轉(zhuǎn)體零部件的跳動、極值位置、同心度、圓度、平面度、垂直度和同軸度的檢測,并對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄、存儲、并建立數(shù)據(jù)庫,通過計(jì)算機(jī)對誤差數(shù)據(jù)進(jìn)行評價(jià)和分析,***終得出正確的測量結(jié)果并出具測試報(bào)告。
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HUE-ZT1032系列精密/超精密單軸氣浮轉(zhuǎn)臺主要用于高精度機(jī)械、光學(xué)零部件等幾何參量和運(yùn)動參量的計(jì)量檢測及分系統(tǒng)與整機(jī)裝配測試等?!疽?guī)格與工作特性】臺面直徑范圍為中200mm一中600mm,設(shè)計(jì)有T型槽或固定孔的臺面形式,特殊需要可單獨(dú)定做;臺體承重從100kg到600kgo【結(jié)構(gòu)與工作特性】HUE-ZT1032系列精密/超精密單軸氣浮計(jì)量/~測量轉(zhuǎn)臺采用多項(xiàng)發(fā)明專利技術(shù),進(jìn)行超精密~高剛度結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和氣體潤滑與支承參數(shù)設(shè)計(jì),使轉(zhuǎn)臺兼有很高的徑向、軸向和角回轉(zhuǎn)精度及高剛度特性;轉(zhuǎn)臺工作狀態(tài)平穩(wěn),在運(yùn)動和定位狀態(tài)下均無氣體紊流振動、嘯叫、噪聲及高頻微振等。
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HUE-X931是哈爾濱工業(yè)大學(xué)、哈爾濱超精密裝備工程技術(shù)中心有限公司聯(lián)合開發(fā)的新一代高空間分辨率光學(xué)共焦顯微鏡。 產(chǎn)品系大型高端科學(xué)儀器,綜合了國內(nèi)外優(yōu)勢技術(shù)方案,技術(shù)密集度極高,能夠?qū)崿F(xiàn)對各類樣品表面微結(jié)構(gòu)的高分辨率三維測量。使用環(huán)境,溫度要求:20℃±1℃;濕度要求:小于60%RH;隔振要求:儀器應(yīng)放在隔振基礎(chǔ)上,周圍無劇烈振動和沖擊;電磁場要求:使用現(xiàn)場周圍無強(qiáng)電磁干擾。